電信終端產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下運(yùn)行或存儲之試驗方法

測試目的：驗證被測終端在高低溫環(huán)境下運(yùn)行或存儲的環(huán)境適應(yīng)能力

測試儀器：

高低溫試驗箱、冷熱沖擊試驗箱

技術(shù)參數(shù)：1)高溫存儲：70±2℃試驗時間：48H（溫度穩(wěn)定后開始計算）；

2)低溫存儲：-40±2℃試驗時間：48H（溫度穩(wěn)定后開始計算）；

3)溫度沖擊存儲：溫度在-40±2℃/60±2℃之間交替，10個循環(huán)；

4)高溫工作：50±2℃試驗時間：24H（溫度穩(wěn)定后開始計算）；

5)低溫工作：-20±2℃試驗時間：24H（溫度穩(wěn)定后開始計算）；

6)高溫高濕工作：溫度40±3℃，濕度93±3%試驗時間：24H（溫濕度穩(wěn)定后開始計算）。

預(yù)置條件：被測終端功能完好，外觀正常。

測試步驟

1)在常溫下對被測終端進(jìn)行外觀、功能檢查；

2)將被測終端關(guān)機(jī)狀態(tài)放進(jìn)高低溫試驗箱，高低溫試驗箱內(nèi)溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到70±2℃溫度，溫度達(dá)到穩(wěn)定后持續(xù)存儲48小時；

3)將被測終端從試驗箱取出在常溫中恢復(fù)2小時后，進(jìn)行外觀、裝配、功能檢查，要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異；

4)在常溫下對被測終端進(jìn)行外觀、功能檢查；

5)將被測終端關(guān)機(jī)狀態(tài)放進(jìn)高低溫試驗箱，高低溫試驗箱內(nèi)溫度以5℃/Min的速率從常溫下降到-40±2℃溫度，溫度達(dá)到穩(wěn)定后持續(xù)存儲48小時；

6)

將被測終端從試驗箱取出在常溫中恢復(fù)2小時后，進(jìn)行外觀、裝配、功能檢查，要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異；

7)在常溫下對被測終端進(jìn)行外觀、功能檢查；

8)將樣機(jī)關(guān)機(jī)狀態(tài)放進(jìn)冷熱沖擊試驗箱，樣機(jī)先在-40℃環(huán)境下存儲1小時，在5分鐘之內(nèi)，溫度上升到60℃存儲1小時，此為一個循環(huán)。樣機(jī)共測試10個循環(huán)；

9)將被測終端從試驗箱取出在常溫中恢復(fù)2小時后，進(jìn)行外觀、裝配、功能檢查，要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異；

10)在常溫下對被測終端進(jìn)行外觀、功能檢查；

11)將待測樣機(jī)開機(jī)狀態(tài)，插入用戶卡，T-flash卡放進(jìn)高低溫試驗箱，其中一臺樣機(jī)插上充電器，另一臺樣機(jī)使用電池供電開機(jī)；

12)高低溫試驗箱內(nèi)溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到設(shè)定的溫度，溫度達(dá)到穩(wěn)定后持續(xù)24小時；

13)

將樣機(jī)從試驗箱取出在常溫中恢復(fù)2小時后，進(jìn)行外觀、裝配、功能檢查，要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異，因電池沒電導(dǎo)致的無法開機(jī)不算故障，可充電后再進(jìn)行檢查；

14)在常溫下對被測終端進(jìn)行外觀、功能檢查；

15)將待測樣機(jī)開機(jī)狀態(tài)，插入用戶卡，T-flash卡放進(jìn)高低溫試驗箱，其中一臺樣機(jī)插上充電器，另一臺樣機(jī)使用電池供電開機(jī)。

16)

高低溫試驗箱內(nèi)溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到設(shè)定的溫度，濕度設(shè)定為標(biāo)準(zhǔn)要求的濕度，溫濕度達(dá)到穩(wěn)定后持續(xù)24小時；

17)將樣機(jī)從試驗箱取出在常溫中恢復(fù)2小時后，進(jìn)行外觀、裝配、功能檢查，要求外觀、裝配、功能與測試前無明顯差異，因電池沒電導(dǎo)致的無法開機(jī)不算故障，可充電后再進(jìn)行檢查。

預(yù)期結(jié)果1)步驟3后，被測終端外觀無明顯變化，基本功能正常;

2)步驟6后，被測終端外觀無明顯變化，基本功能正常;

3)步驟9后，被測終端外觀無明顯變化，基本功能正常;

4)步驟13后，被測終端外觀無明顯變化，基本功能正常;

5)

步驟17后，被測終端外觀無明顯變化，基本功能正常.

備注：

高低溫試驗箱共4臺，分為兩組，兩組并行測試，每組內(nèi)的測試項串行測試：

第一組：高溫存儲、低溫存儲、溫度沖擊；第二組：高溫工作、低溫工作、高溫高濕。